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質(zhì)量工程師初級基礎(chǔ)與理論測試題

時(shí)間:2024-12-01 17:00:48 試題 我要投稿

2016質(zhì)量工程師初級基礎(chǔ)與理論測試題

  單項(xiàng)選擇題

2016質(zhì)量工程師初級基礎(chǔ)與理論測試題

  1、采用不合格品數(shù)作為統(tǒng)計(jì)量適用的常規(guī)控制圖為(  )。

  A.P圖

  B.c圖

  C.u圖

  D.np圖

  2、直方圖的形狀有多種類型,其中一種稱為孤島型,形成這種形狀的原因可能是多方面的,常見的原因是(  )。

  A. 分組過多

  B. 不適當(dāng)?shù)姆纸M

  C. 剔除了不合格或不合格品的數(shù)據(jù)

  D. 混雜了不同分布的數(shù)據(jù)

  4、2002年5月1日起,中國對強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證使用的標(biāo)志為( )。

  A.“長城”標(biāo)志

  B.“CCIB“標(biāo)志

  C.“CCC”標(biāo)志

  D.方圓認(rèn)證標(biāo)志

  多項(xiàng)選擇題

  5、以下關(guān)于調(diào)查表的說法中正確的是(  )。

  A. 調(diào)查表的目的就是記錄數(shù)據(jù)

  B. 調(diào)查表只能收集數(shù)據(jù),并不能提供數(shù)據(jù)的分布,分層等有關(guān)信息

  C. 設(shè)計(jì)良好的調(diào)查表不僅用于采集數(shù)據(jù),還可以對數(shù)據(jù)進(jìn)行簡單處理

  D. 調(diào)查表可以用于工序分布調(diào)查、不合格項(xiàng)調(diào)查、不合格位置調(diào)查,但不能用于不合格原因調(diào)查

  E. 工序分布調(diào)查可以起到替代直方圖的作用

  6、樣本成為簡單隨機(jī)樣本的條件是 (  )。

  A. 每個(gè)個(gè)體在總體中都有相同的機(jī)會(huì)入樣

  B. 每個(gè)個(gè)體在總體中都有不同的機(jī)會(huì)入樣

  C. 從總體中抽取的每個(gè)個(gè)體對其他個(gè)體的抽取無任何影響

  D. 隨機(jī)性

  7、設(shè)X的分布列為

X

1    2    3    4    5  

P

 p1    p2   p3    p4   p5

  概率P(2≤X<5)=(  ).

  A. p2+ p3+p4+p5

  B. p2+ p3+p4

  C. P(X<5)- P(X<2)

  D. 1- P(X<2)-P(X>4)

  8、 與B、C類不合格相比,A類不合格特性是(  )的特性。

  A.更關(guān)鍵

  B.造成質(zhì)量損失更大

  C.對質(zhì)量的要求更高

  D.顧客關(guān)注度低

  E.輕微不符合

  9、描述樣本中心位置的統(tǒng)計(jì)量有(  )。

  A.樣本方差

  B.樣本標(biāo)準(zhǔn)差

  C.樣本均值

  D.樣本極差

  E.樣本中位數(shù)

  10、 增大抽樣方案的AQL值意味著(  )。

  A.降低質(zhì)量要求

  B.可能會(huì)減少樣本量

  C.提高對過程的質(zhì)量要求

  D.減小交檢批量

  E.提高質(zhì)量要求

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